果果儀器為美國華盛頓州公立大學（University of Washington）交付外部調(diào)節(jié)探針冷熱臺，實現(xiàn)變溫電學測試。

典型應(yīng)用場景：

1、半導體器件在低溫/高溫下的電學特性微區(qū)測試

2、材料相變點附近的局部電導/熱導測量

3、納米材料、低維材料在變溫條件下的物性表征

產(chǎn)品主要技術(shù)參數(shù)：

溫度范圍：-190℃~400℃

溫度穩(wěn)定性：±0.1℃

探針：同軸探針*4

探針位移行程：±6mm

探針接口：三同軸BNC

腔室：真空